葉面積指數測量儀介紹：

葉面積指數測量儀是款用來測量高層植物冠層的科研儀器！它采用魚眼鏡頭和CCD圖像傳感器來獲取植物冠層圖像，并通過專業分析軟件即可準確而快速的獲取植物冠層中的葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透過率等相關參數。儀器可直接測量不同高度的植物冠層，同時也能得到群體內光透過率和葉面積指數垂直分布圖。同時葉面積指數測量儀還自帶USB接口，用戶在測量時直接連接電腦即可實時查看冠層圖像等，可廣泛用于作物、植物群體冠層受光狀況的測量分析以及農林業科研領域！

葉面積指數測量儀原理：

葉面積指數測量儀是采用冠層孔隙率與冠層結構相關的原理，依據光線穿過介質減弱的比爾定律。在植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。

葉面積指數測量儀測量指標：

葉面積指數測量儀可以無損測量葉面積指數、葉片平均傾角、散射輻射透過率、不同太陽高度角下的直射輻射透過率、不同太陽高度角下的消光系數、葉面積密度的方位分布、冠層內外的光合有效輻射（PAR）等參數。

葉面積指數測量儀功能：

1、儀器無損測量植物葉面積指數、葉片平均傾角以及冠層結構。

2、探頭體積小巧，裝在測杠上可任意角度測量植物冠層結構。

3、攝像頭可自動保持水平。

4、USB接口，測量時連接電腦實時查看冠層圖像，即時選取所需圖像并保存。

5、外接大容量鋰電池，適用于野外工作和長時間測量。

6、測量冠層不同高度，可得到群體內光透過率和葉面積指數垂直分布圖。

7、葉面積指數測量儀配有專用植物分析軟件，有選擇所需圖像區域的功能（天頂角可分10區，方位角可分10區），可屏蔽不合理的冠層部分，僅對有效圖像區域進行分析，使測量數據更加精確。

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